封测厂 HAST 高加速应力试验能力建设

130℃ / 85%RH 偏压 HAST 试验能力，单柜 96 工位，按 JESD22-A110 建立封装可靠性筛选与失效分析闭环。

【项目背景】客户承接消费类芯片封装订单，可靠性验收需要 HAST 加速试验数据。此前送第三方实验室测试，单批周期 2~3 周，遇到失效复测时排期更长，影响交期承诺。

【方案设计】部署 HAST 试验箱，工作条件 130℃ / 85%RH / 偏压 200V，单柜 96 工位；配置独立纯水与排水系统，釜体压力与湿度双闭环控制，避免长时间运行中的湿度漂移。

【实施与验证】按 JESD22-A110 进行 96 小时偏压 HAST 验证，同步做空白批对照；实测温湿度稳定性满足标准要求，工位间偏差控制在允许范围内。

【运行效果】常规批次筛选周期由 2~3 周缩短至 4 天，失效样品可当天进入开封与切片分析，可靠性问题从"等报告"变成"当周闭环"。